ICS 71.040.40 G 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T34002—2017/IS029301:2010 微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy- Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures (ISO29301:2010,IDT) 2017-07-12发布 2018-06-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会

GB-T 34002-2017 微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

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